Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Реферативна база даних (2)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Yakovenko I$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 16
Представлено документи з 1 до 16
1.

Kolchunov V. 
The analytical core model formation of the nonlinear problem bond armature with concrete [Електронний ресурс] / V. Kolchunov, I. Yakovenko, E. Dmitrenko // Збірник наукових праць [Полтавського національного технічного університету ім. Ю. Кондратюка]. Серія : Галузеве машинобудування, будівництво. - 2016. - Вип. 2. - С. 125-132. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Znpgmb_2016_2_17
Попередній перегляд:   Завантажити - 314.049 Kb    Зміст випуску     Цитування
2.

Kravchenko V. 
Extraneous electromagnetic radiation impact on waveguide characteristics of a semiconductor superlattice [Електронний ресурс] / V. Kravchenko, V. Breslavets, I. Yakovenko, Jing Hui Qiu // Сучасні інформаційні системи. - 2018. - Т. 2, № 1. - С. 96-99. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2018_2_1_20
Попередній перегляд:   Завантажити - 277.903 Kb    Зміст випуску     Цитування
3.

Serkov A. 
Excitation of surface vibrations of semiconductor structures exposed to external electromagnetic radiation [Електронний ресурс] / A. Serkov, V. Breslavets, I. Yakovenko, O. Dziabenko // Сучасні інформаційні системи. - 2018. - Т. 2, № 3. - С. 142-146. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2018_2_3_27
Попередній перегляд:   Завантажити - 273.375 Kb    Зміст випуску     Цитування
4.

Serkov A. 
Ultra wideband technologies in mobile object management systems [Електронний ресурс] / A. Serkov, P. Pustovoitov, I. Yakovenko, B. Lazurenko, G. Churyumov, V. Tokariev, W. Nannan // Сучасні інформаційні системи. - 2019. - Т. 3, № 2. - С. 22-27. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2019_3_2_6
Попередній перегляд:   Завантажити - 993.064 Kb    Зміст випуску     Цитування
5.

Knyazev V. 
Electromagnetic compatibility of semiconductor devices exposed to transition radiation [Електронний ресурс] / V. Knyazev, A. Serkov, V. Breslavets, I. Yakovenko // Сучасні інформаційні системи. - 2019. - Т. 3, № 2. - С. 109-115. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2019_3_2_21
Попередній перегляд:   Завантажити - 325.549 Kb    Зміст випуску     Цитування
6.

Yakovenko I. V. 
The Poet as Literary Critic: Elizabeth Alexander on African American Heritage [Електронний ресурс] / I. V. Yakovenko // Наукові записки Харківського національного педагогічного університету імені Г. С. Сковороди. Літературознавство. - 2019. - Вип. 1-2. - С. 180-191. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nzl_2019_1-2_16
Попередній перегляд:   Завантажити - 306.332 Kb    Зміст випуску     Цитування
7.

Kravchenko V. 
Electromagnetic compatibility of semiconductor structures with a two-dimensional electron layer [Електронний ресурс] / V. Kravchenko, V. Knyazev, A. Serkov, V. Breslavets, I. Yakovenko // Сучасні інформаційні системи. - 2019. - Т. 3, № 4. - С. 132-136. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2019_3_4_22
Попередній перегляд:   Завантажити - 241.254 Kb    Зміст випуску     Цитування
8.

Yakovenko I. V. 
American inaugural poetry: poetics and style [Електронний ресурс] / I. V. Yakovenko // Accents and Paradoxes of Modern Philology. - 2017. - Iss. 2. - С. 82-96. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/asspmp_2017_2_8
Попередній перегляд:   Завантажити - 371.229 Kb    Зміст випуску     Цитування
9.

Yakovenko I. 
Biometrical identification on the basis of photoplethysmogram for automated medical systems [Електронний ресурс] / I. Yakovenko, V. Martynenko, M. Turchyna // Перспективні технології та прилади. - 2019. - Вип. 15. - С. 120-124. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ptp_2019_15_19
Попередній перегляд:   Завантажити - 687.679 Kb    Зміст випуску     Цитування
10.

Yakovenko I. 
Improvement of the credibility of analysis of electrocardiograms for biometric personal identification [Електронний ресурс] / I. Yakovenko, A. Rudoy, M. Turchyna // Перспективні технології та прилади. - 2019. - Вип. 15. - С. 125-130. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/ptp_2019_15_20
Попередній перегляд:   Завантажити - 812.619 Kb    Зміст випуску     Цитування
11.

Serkov A. 
Excitation of magnetoplasma oscillations in semiconductor structures by fluxes of charged particles [Електронний ресурс] / A. Serkov, V. Breslavets, I. Yakovenko, A. Fomenko // Сучасні інформаційні системи. - 2021. - Т. 5, № 3. - С. 18-21. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2021_5_3_5
Попередній перегляд:   Завантажити - 520.494 Kb    Зміст випуску     Цитування
12.

Serkov A. 
Excitation of own oscillations in semiconductor components of radio products under the exposure of third-party electromagnetic radiation [Електронний ресурс] / A. Serkov, V. Breslavets, Ju. Breslavets, I. Yakovenko // Сучасні інформаційні системи. - 2022. - Т. 6, № 1. - С. 124-128. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2022_6_1_22
Попередній перегляд:   Завантажити - 200.291 Kb    Зміст випуску     Цитування
13.

Babak O. V. 
The Quasi-Orthogonaliz ation Approach to Solving the Multicolinearity Problem of Empirical Data [Електронний ресурс] / O. V. Babak, O. E. Tatarinov, A. K. Sieriebriakov, I. M. Yakovenko // Control systems & computers. - 2022. - № 4. - С. 47-53. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/USM_2022_4_7
Попередній перегляд:   Завантажити - 96.717 Kb    Зміст випуску     Цитування
14.

Serkov A. 
The influence of a potential barrier on the mechanisms of excitation of own fluctuations in radio products in conditions of exposure to electromagnetic radiation [Електронний ресурс] / A. Serkov, V. Breslavets, Ju. Breslavets, I. Yakovenko // Сучасні інформаційні системи. - 2023. - Т. 7, № 1. - С. 36-40. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/adinsys_2023_7_1_8
Попередній перегляд:   Завантажити - 326.596 Kb    Зміст випуску     Цитування
15.

Serkov А. 
Influence of electromagnetic radiation on resistance of semiconductor devices [Електронний ресурс] / А. Serkov, V. Breslavets, Yu. Breslavets, I. Yakovenko // Системи управління, навігації та зв'язку. - 2023. - Вип. 1. - С. 177-181. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/suntz_2023_1_37
Досліджено процес аналізу та механізми появи нестійкостей власних коливань напівпровідникових структур, обумовлених їх взаємодією з потоками заряджених частинок в умовах впливу зовнішнього електромагнітного випромінювання. Показано, що вплив імпульсного електромагнітного випромінювання супроводжується виникненням струмів у провідних елементах виробів, здатних збуджувати власні коливання напівпровідникових комплектуючих та бути причиною відмов радіовиробів. Мета статті - розробка теорії беззіткувального згасання поверхневих поляритонів в класичному наближенні, а також дослідження механізмів беззіткувального згасання поверхневих плазмонів на межах напівпровідникових комплектуючих радіовиробів в умовах, коли температура носіїв твердих тіл набагато менше енергії плазмону (квантове наближення). Цілі такі: кінетичне рівняння, що описує зміну числа поверхневих плазмонів внаслідок їх взаємодії з електронами провідності; отримання його рішення, що визначають декремент коливань та потужність спонтанного випромінювання частинок. Методи, що застосовувались при дослідженні: метод послідовних наближень розв'язання кінетичних рівнянь системи потік заряджених частинок - напівпровідникова структура в рамках квантового підходу, коли взаємодія хвиль та частинок носить характер випадкових зіткнень та описано методом вторинного квантування системи (подання чисел заповнення). Отримано вирази для декрементів поверхневих плазмонів за наявності нескінченно високого та нескінченно малого потенційного бар'єру на межі розділу середовищ. Отримано кінетичне рівняння, що описує зміну числа поверхневих плазмонів у результаті взаємодії з електронами провідності; наведено його рішення, що визначають декремент коливань. Отримано вирази для декрементів поверхневих плазмонів за наявності нескінченно високого та нескінченно малого потенційного бар'єру на межі розділу середовищ. Обгрунтовано фізичну модель виникнення оборотних відмов (вплив наведених електромагнітним випромінюванням струмів на вольтамперні характеристики напівпровідникових приладів). Визначено області параметрів зовнішнього електромагнітного випромінювання, за яких реалізується дана фізична модель. Висновки: отримано розрахункові співвідношення, що зв'язують параметри напівпровідникових структур: концентрацію вільних носіїв, діелектричну проникність, температуру носіїв з величиною декременту коливань у класичному та квантовому наближеннях. Проведений у роботі порівняльний аналіз кількісних оцінок інкрементів нестійкостей коливань дозволяє вирішувати завдання оптимізації робочих характеристик активних приладів НВЧ-діапазону. Результати роботи можуть бути використані при розробці приладів НВЧ-діапазону, призначених для посилення, генерації та перетворення електромагнітних коливань міліметрового та субміліметрового діапазонів.
Попередній перегляд:   Завантажити - 393.521 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
16.

Yakovenko I. 
Technological provision of the accuracy for the thread form of rod pumps [Електронний ресурс] / I. Yakovenko, Yu. Vasilevskyi, Y. Basova, Milan Edl // Різання та інструменти в технологічних системах. - 2021. - Вип. 94. - С. 126-134. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/rits_2021_94_16
Попередній перегляд:   Завантажити - 395.359 Kb    Зміст випуску     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського